透過EBSD技術可取得樣品晶體結構分析，但如需捕捉材料在特定條件下的動態變化時，
就需要倚賴特殊樣品載台來觀測，否則難取得更精準有效的分析。

•電子式製冷 SEM/FIB 專用冷台： EBSD 可冷却至 -100°C

•SEM原位拉伸/加熱樣品台： 最大拉伸力為1500N

•EBSD原位加熱樣品台： 最高可在1000℃高溫下實驗
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